• Language
  • VEBKO

  • Einführendes Unternehmen und Producte
    • Vorstellung von Geräten und Teilen des Prüfgeräts AMT105
    • Zerlegungsschritte des AMT-Prüfgeräts
    • Vorstellung des Geräts und der Ausrüstung
    • Vergleichende Analyse der Geräte AMT105, AMT205, AMT103 und AMT203
    • Übersetzung der AMPro-Software
  • Software-Installation und Verbindungseinstellung
    • Softwareinstallation
    • So Stellen Sie eine Verbindung zu AMT 105 Her
    • Der Anschluss Mehrerer Geräte Gleichzeitig
    • Zurücksetzen der IP-Adresse
    • Firmware des Geräts Manuell Aktualisieren
  • Standardeinstellung
    • Allgemeine Einstellung von „Rooms“
    • Allgemeine Stellzeit der Zimmer, Teil2
    • Standardeinstellung für "Report"
    • Einstellungen Seite „Directory“ und „Cash“ Tab
    • "Connection & Firmware" Registerkarte
    • Gerät Hardware-Einstellung
    • Änderung und Verbesserung der Übersetzung der Website der Firma Vebko Amirkabir
    • Leistungsregelung und Ihre Beziehung zur Wärme
    • Modifizierung und Verbesserung der Übersetzung der AMPro-Software
  • Software Startseite
    • Allgemeine Typen von Zimmern
    • Software Startseite
  • Symbolleiste und Statusleiste der Module
    • Symbolleiste und Statusleiste, Teil 1
    • Symbolleiste und Statusleiste, Teil 2
    • Option "New Based On Custom Template"
    • Bestimmen von Dezimalzahlen, Folge 1
    • Bestimmen von Dezimalzahlen, Folge 2
    • Einstellung des Analogausgangs
    • Einstellung der Binäreingänge, Teil1
    • Einstellung der Binäreingänge, Teil2
    • Hardwarekonfiguration
    • Zusätzliche Einstellung
    • Relaisspezifikation im "Test Objekt"
    • Einführung in “RIO”
    • Einführung in die "XRIO"
    • XRIO Converter Datei:
    • XRIO-Konverter, Teil2
    • Ergänzende Erklärung über XRIO Converter
    • XRIO And XRIO Converter
    • XRIO & Relay Einstellung in der Software
    • XRIO Converter Formelschreiben
    • Schreiben von „XRIO Converter“ für ein Überstromrelais
    • Schreibformel für den „XRIO Converter“
    • Schreibformel für den „XRIO Converter“, Folge 4
    • Schreibformel für den „XRIO Converter“
    • Ergänzende Erläuterungen zum Abschnitt "Device"
  • AMT Sequencer Modul
    • Eine Einführung in den Sequencer Room
    • Fenster “Table View”
    • Die Separate Symbolleiste des Fensters „Tabellenansicht“
    • “Detail View” Registerkarte
    • „Analog Out“ Registerkarte
    • Quick Type
    • “Step Ramp” Typ
    • Kontinuierlicher Rampentyp
    • “Harmonic” Zustand
    • “Transient” Zustandstyp
    • Der "Transiente" Zustand (Beobachtung der Trajektorie)
    • „Transienter“ Zustand (Beobachten der Differentialtrajektorie)
    • Der Zustand “Tracking”
    • “Set Mode And Fault Type” : Folge 1
    • “Set Mode And Fault Type”: Folge 2
    • Zusätzliche Einstellungen von “Detail View”
    • Das Fenster “Signal View” Teil 1
    • Das Fenster “Signal View”, Teil 2
    • Die Einstellung “Signal View”, Folge 1
    • Die Einstellung “Signal View, Folge 2
    • Fenster “Vector View”, Folge 1
    • Das Fenster “Vector View”, Folge 2
    • Fenster “Vector View”, Folge 3
    • Das Fenster “Measurement View”, Teil 1
    • Die Registerkarte „Level Assessment“
    • Register “Ramp Assessment”
    • Die Registerkarte “Value Assessment”
    • Die Registerkarte “Calculated Assessment”
    • Die Registerkarte “Transient Assessment”
    • Ausführen des Tests
    • Das Fenster “Start-Condition-Repetition”
    • Das Fenster “Report View”
    • Das Fenster “Report View”
    • Erweiterte Einstellungen von „Report“, Folge 1
    • Erweiterte Einstellungen von „Report“, Folge 2
    • Fähigkeit, Ausgangsbinärspannung in Strom zu Konvertieren und Umgekehrt
    • Sampled Value
  • AMT Overcurrent Modul
    • Einführung des Überstromraums
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 1
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 2
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 3
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 4
    • Testansichtsfenster
    • Registerkarte “Pick-Up/Drop-Off”
    • Kennlinie des „Overcurrent” Moduls
    • Register “Setting” Ins „Overcurrent“ Modul, Teil 1
    • Register “Settings” des "Overcurrent" Moduls, Teil 2
    • Richtungs-Erdschlussfehler
    • Ergänzende Erläuterung des Moduls "Overcurrent"
    • Richtungs-Überstromschutz
  • AMT VI STARTING Modul
    • Der Raum “VI Starting”
    • Register “Shot Test”
    • Die Reisterkarte “Check Test”
    • Raumeinstellung "VI Starten"
  • AMT Distance Modul
    • Einführung "Distance" Modul, Teil 1
    • Einführung "Distance" Modul, Teil 2
    • Einführung "Distance" Modul, Teil 3
    • Einführung "Test View" Fenster in "Distance" Raum, Folge 1
    • Register "Check Test"
    • Register "Search Test"
    • Einstellungen des Raums "Distance", Folge 1
    • Einstellungen des Raums "Distance", Folge 2
    • Das Fenster "Impedance View"
    • Fenster "Zt Diagram" und "Medium Detail View"
    • Erdungsfaktor im Distanzschutz
    • Distanzschutz Spannungs- und Stromberechnungen im Testraum
  • AMT Differential Modul
    • Relaiseinstellungen im Raum "Differential", Teil 1
    • Relaiseinstellungen im "Differential" Modul, Teil 2
    • Einführung des Fensters "Test View" im "Differential" Modul, Teil 1
    • Einführung des Fensters "Test View" im "Differential" Modul, Teil 2
    • Register "Settings" in "Differential" Modul
    • Fenster "Differential Characteristic"
    • Keine Kombinierten Charakteristiken
    • Eliminierung des Nullfolgestroms
    • Restricted Earth Fault
  • AMT Diff Harmonics Modul
    • Die Einführung vom Raum "AMT Diff. Harmonics"
    • Fenster "Test View"
    • Register "Setting"
    • Fenster "Harmonic Restraint View"
  • AMT Transducer Modul
    • "Offload"-Test des Messgeräts Teil 1
    • "Offload"-Test des Messgeräts Teil 2
    • "Onload" Test des Messgeräts
    • Aufnehmertest
    • So Verwenden Sie den Optischen Pulssensor bei der Zählerprüfung
  • AMT Synchronizer Modul
    • Einführung in AMT Synchronizer
    • Prüfansicht im "Synchronizer"
  • Raum VCC
    • Raum VCC
  • Current Transformer Modul
    • Einführung "Current Transformer (CT)" Raum
    • Secondary Burden Test
    • Winding Resistance Test
    • Register "Excitation Test", Folge1
    • Register "Excitation Test", Folge 2
    • Register "Excitation Test", Folge 3
    • Register "Excitation Test", Folge 4
    • Andere Tests in der Registerkarte "Excitation Test" Durchzuführen
    • I-Wdl-Verhältnis- und Polaritätstest mit der Strommethode:
    • CT Ratio And Polarity Test (With Voltage)
    • Anleitung zum Anschluss von CTs mit dem Instrumentmodul
    • CT and PT Turns Ratio
    • Schätzung von FS und ALF für Verschiedene CTs
  • Circuit Breaker Modul
    • Vorstellung des Raums "Circuit Breaker(CB)"
    • Register "Timing Test”
    • Register "Contact Resistance"
    • Leistungsschalterbetrieb Mindestspannungsprüfung
    • Anleitung zur Durchführung von Leistungsschalterprüfungen mit dem Instrumentmodul
  • Kondensatorspannungstransformator
    • Kapazitive Spannungswandler
    • Sekundärbelastungstest
    • Register "Short-Circuit Impedance"
    • Wicklungswiderstandstest
    • Register Excitation
    • "Ratio" Register
    • Ein Leitfaden für die Prüfverdrahtung von Kapazitiven Spannungswandlern mit dem Instrumentenmodul
    • Ratio Tab setting Register
  • Transformer Modul
    • Einführung "Transformer" Room
    • Register "Vector Group, Turns Ratio And No Load"
    • Register "Magnetic Balance"
    • Regisret "Winding Resistance"
    • Register “Leakage Reactance“
    • Register “Demagnitize”
    • Leitfaden zur Durchführung von Transformatorprüfungen mit dem Instrumentenmodul
    • Verwendung von Zangen in der Transformatorenprüfung
  • Überstrom-Schnelltestraum
    • Modul "Overcurrent Quick Test"
  • Unter Überspannungsprüfraum
    • Modul Under Over Voltage Test
  • Demnächst Verfügbar...
    • Amit und Zimmer
  • Widerstandstest
    • Resistance Test
  • Fehlerbehebung
    • Die Komplette Hauptschaltung
    • Hauptschaltfehler Überstromkarte
    • Überstromfehler der Karte 2 Teil 1
    • Überstromfehler der Karte 2 Teil 2
    • Fehlerbehebung Beim Switching
    • OC-Platine IGBT-Test
    • Einführung in Interne Module Teil 1
    • Einführung in Interne Module Teil 2
    • Einführung in Interne Module Teil 3
    • Schaltmodul
    • Mögliche Fehler im Schaltmodul
    • Prüfen der Teile, bei Schaltmodulfehlern Teil 1
    • Prüfen der Teile, bei Schaltmodulfehlern Teil 2
    • Prüfen der Teile, bei Schaltmodulfehlern Teil 3
    • Die Verbindungen Zwischen dem Schaltmodul und dem Verstärker
  • Funktionsprüfung
    • End-To-End Prüfung
    • Überspannungsschutz-Funktionsprüfung im MICOM P141-Relais
    • Funktionsprüfung des Unterspannungsschutzes im MICOM-Relais P141
    • Richtungsabhängiger Überstromschutz Funktionstest im MICOM P141 Relais
    • Directional Earth Fault (DEF) Schutzfunktionstest im MICOM P141 Relais
    • Neu End-To-End Prüfung
    • Zeichnen der Abstandscharakteristik und Praktisches Beispiel für das Zeichnen der Quad-Charakteristik in Siemens 7SA522 Relais
    • Zeichnen des Merkmals von der Lasteinschränkung
    • Zeichnung der Mho-Kennlinie im GEC PYTC-Relais
    • Funktionsprüfung des Synchronisiergeräts in SIPROTEC Siemens 7SD82 Relais
    • 51V Funktionstest in Siemens 7SD82 Relais
    • Prüfung des Ungerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Unterspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Überspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Gegenstrom-Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Gerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Ungerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Distanzschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Differenzialschutzprüfung im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Rogowski-Spulen-Test
  • ZA
  • Goose Messaging-Tests
    • GOOSE-Nachrichtenprüfung
  • ANLEITUNG ZUM VERTRAUEN IN VEBKO
    • Anleitung zum Vertrauen in die Software Vebko(Stable-Test) in Kaspersky Antivirus
    • Anleitung zum Vertrauen in die Vebko(Stable-Test) Software in NOD32 Antivirus
    • Anleitung zum Vertrauen in Vebko (Stable-Test) Software in Bitdefender Antivirus
  • PMU Test
    • PMU Test
  • ZE
  • Einführendes Unternehmen und Producte
    • Montagestufen des AMR-Relais
  • Software Download und Installation
    • Installation der Software
  • Software Homepage und Projekt erstellen
    • Anmeldung in der Hauptumgebung der Software
  • Verbindung und Firmware aktualisieren
    • Mit Relais Verbinden
    • Firmware-Relais-Update
  • Relais Hardware
    • Relais Hardwaremodul
    • Spannungs- und Stromwandler Daten
  • AMR Relais Test
    • Differenzialschutzprüfung im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Gerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Gegenstrom-Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Distanzschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Ungerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Überspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Unterspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
  • Real Testing Requires Realistic Signals
  • AMPro Protocol Sniffer
  • Meet SV100+
  • IEC 61850 Sampled Values Testing
  • Digital substations run at the speed of light
  • Don’t Just Test Your Relays. Simulate the Grid
  • Smart Configuration Inheritance in VCC — With Full Control
  • Control What Appears in Your Test Report
  • From Comtrade to Inject
  • Design and Navigate Complex Test Procedures with the AMPRO Sequencer
  • One State. Four Transitions. Total Control
  • Stop waiting for the test to finish
  • Balanced System, Zero Trip, Infinite Confidence
  • Defining Complex Logic For Assessments
  • Erweiterte Assessments
  • Vebko Around The World
  • Noise Suppression in Transformer Turns Ratio
  • Relay Data in Quick Access
  • Wiring Clarity - Without Leaving Your Workspace
  • Design and Navigate Complex Test Procedures with the AMPRO Sequencer
  • Flexible Connectivity with AMT205 in AMPRO
  • Simultaneous Ramp on All Outputs [AMT205]
  • Continuous Ramp Capability [AMT205]
  • Distance Search Testing
  • Comprehensive Circuit Breaker Testing [AMT205]
  • Smarter Configuration In VCC File
  • New Feature In Vebko AMPro
  • Vebko Educational Videos
  • Contact Resistance Measurement
  • Test With Confidence
  • Control Your Report
  • One Device, Any Relay
  • DC Resistance Measurement
  • History of Amt105 GPS
  • History of Amt105 Wifi
  • AMT 105 Features
  • Catalog
    • Gesamtkatalog
    • Zubehör
    • Agenturen
    • Katalog
    • Hardware
  • PDF PDF herunterladen
    0 / 0

    Schätzung von FS und ALF für Verschiedene CTs

    Imported Content

    Bei Messstromwandlern (CTs) gibt es einen Parameter namens Fs (Sicherheitsfaktor), der verwendet wird, um den CT und seine Genauigkeitsklasse zu beschreiben. Gemäß der IEC 60044-1 Norm wird Fs so definiert, dass bei einem Strom von Fs × Nennstrom der Gesamtfehler auf der Sekundärseite 10 % beträgt. Beispiel: Bei einem CT der Klasse 0,5Fs10 beträgt bei 10-fachem Nennstrom der Gesamtfehler 10 %. Auf dem Typenschild des in diesem Beispiel gezeigten CTs ist Kern Nr. 1 vom Mess-Typ, und seine Klasse ist 0,2Fs10. Das bedeutet, dass bei 10-fachem Nennstrom der Gesamtfehler am Ausgang 10 % beträgt. Die 0,2 vor Fs gibt die Genauigkeitsklasse des CTs bei Nennstrom an. Dies bedeutet, dass bei 100 % und 120 % des Nennstroms auf der Primärseite der Verhältnisfehler an den Sekundäranschlüssen < 0,2 % liegt.

    Bei Schutzstromwandlern (Protective CTs) existiert ein ähnliches Konzept, das als ALF (Accuracy Limit Factor) bezeichnet wird. Zur Erklärung dieses Parameters betrachten wir das vorherige Beispiel: Kern Nr. 2 ist ein Schutzkern mit der Klasse 5P20. In diesem Beispiel gilt ALF = 20, und gemäß der Definition der IEC 60044-1 beträgt bei 20-fachem Nennstrom der Gesamtfehler 5 %. Für eine detailliertere Erklärung betrachten wir einen Schutz-CT der Klasse 10P5. Hier gilt ALF = 5, und gemäß der Definition beträgt bei 5-fachem Nennstrom der Gesamtfehler 10 %.

    Bei Messstromwandlern (Measurement CTs) ist der tatsächliche Fs kleiner als der auf dem Typenschild angegebene Wert. Bei Schutzstromwandlern (Protective CTs) ist der tatsächliche ALF größer als der auf dem Typenschild angezeigte Wert.

    Verhältnisfehler und Gesamtfehler

    Gemäß der Definition in der IEC 60044-1 Norm wird der Verhältnisfehler wie folgt dargestellt:

    Gemäß der Definition ist ALF oder Fs der Punkt, an dem der Gesamtfehler 5 % bzw. 10 % beträgt.

    Zur Berechnung des Gesamtfehlers mit der indirekten Methode (unter Vernachlässigung des Verhältnisfehlers) kann man sagen, dass der Strom im Parallelzweig die Ursache für den Gesamtfehler zwischen Primär- und Sekundärseite ist. Daher muss, um sicherzustellen, dass der Gesamtfehler bei Fs-fachem Nennstrom 10 % beträgt, der Strom im Parallelzweig 10 % des Ausgangsstroms betragen.

    Unter solchen Bedingungen ist die Spannung des Parallelzweigs ebenfalls gleich Fs-fache der Parallelzweigspannung unter den Bedingungen, bei denen der Nennstrom durch die CT-Anschlüsse bei Nennlast fließt:

    Gemäß der angegebenen Beziehung existiert für einen festgelegten ALF (Fs) eine Linie mit konstanter Steigung. Der Schnittpunkt dieser Linie mit der Sättigungskurve zeigt den Punkt an, an dem der Gesamtfehler des CTs 10 % beträgt.

    Durch Division der ermittelten Spannung durch die Nennimpedanz wird der Ausgangsstrom berechnet, und sein Verhältnis zum Nennstrom entspricht dem ALF (Fs).

     [jg1]Fs_and_ALF_Calculation

    Verwandte Themen

    • CT and PT Turns Ratio Current Transformer Modul
    • Einführung "Current Transformer (CT)" Raum Current Transformer Modul
    • Andere Tests in der Registerkarte "Excitation Test" Durchzuführen Current Transformer Modul
    • I-Wdl-Verhältnis- und Polaritätstest mit der Strommethode: Current Transformer Modul
    • Register “Leakage Reactance“ Transformer Modul
    • "Ratio" Register Kondensatorspannungstransformator
    • Eliminierung des Nullfolgestroms AMT Differential Modul
    • Differenzialschutzprüfung im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen) Funktionsprüfung
    Sharing Window
    Telegram Telegram WhatsApp WhatsApp Eitaa Eitaa FaceBook FaceBook Linkedin Linkedin X X
    Schätzung von FS und ALF für Verschiedene CTs
    Tap play once on mobile if autoplay is blocked.
    En Fa De Tr Mu
    MP4
    MP3
    SRT
    DOC