• Language
  • VEBKO

  • Einführendes Unternehmen und Producte
    • Vorstellung von Geräten und Teilen des Prüfgeräts AMT105
    • Zerlegungsschritte des AMT-Prüfgeräts
    • Vorstellung des Geräts und der Ausrüstung
    • Vergleichende Analyse der Geräte AMT105, AMT205, AMT103 und AMT203
    • Übersetzung der AMPro-Software
  • Software-Installation und Verbindungseinstellung
    • Softwareinstallation
    • So Stellen Sie eine Verbindung zu AMT 105 Her
    • Der Anschluss Mehrerer Geräte Gleichzeitig
    • Zurücksetzen der IP-Adresse
    • Firmware des Geräts Manuell Aktualisieren
  • Standardeinstellung
    • Allgemeine Einstellung von „Rooms“
    • Allgemeine Stellzeit der Zimmer, Teil2
    • Standardeinstellung für "Report"
    • Einstellungen Seite „Directory“ und „Cash“ Tab
    • "Connection & Firmware" Registerkarte
    • Gerät Hardware-Einstellung
    • Änderung und Verbesserung der Übersetzung der Website der Firma Vebko Amirkabir
    • Leistungsregelung und Ihre Beziehung zur Wärme
    • Modifizierung und Verbesserung der Übersetzung der AMPro-Software
  • Software Startseite
    • Allgemeine Typen von Zimmern
    • Software Startseite
  • Symbolleiste und Statusleiste der Module
    • Symbolleiste und Statusleiste, Teil 1
    • Symbolleiste und Statusleiste, Teil 2
    • Option "New Based On Custom Template"
    • Bestimmen von Dezimalzahlen, Folge 1
    • Bestimmen von Dezimalzahlen, Folge 2
    • Einstellung des Analogausgangs
    • Einstellung der Binäreingänge, Teil1
    • Einstellung der Binäreingänge, Teil2
    • Hardwarekonfiguration
    • Zusätzliche Einstellung
    • Relaisspezifikation im "Test Objekt"
    • Einführung in “RIO”
    • Einführung in die "XRIO"
    • XRIO Converter Datei:
    • XRIO-Konverter, Teil2
    • Ergänzende Erklärung über XRIO Converter
    • XRIO And XRIO Converter
    • XRIO & Relay Einstellung in der Software
    • XRIO Converter Formelschreiben
    • Schreiben von „XRIO Converter“ für ein Überstromrelais
    • Schreibformel für den „XRIO Converter“
    • Schreibformel für den „XRIO Converter“, Folge 4
    • Schreibformel für den „XRIO Converter“
    • Ergänzende Erläuterungen zum Abschnitt "Device"
  • AMT Sequencer Modul
    • Eine Einführung in den Sequencer Room
    • Fenster “Table View”
    • Die Separate Symbolleiste des Fensters „Tabellenansicht“
    • “Detail View” Registerkarte
    • „Analog Out“ Registerkarte
    • Quick Type
    • “Step Ramp” Typ
    • Kontinuierlicher Rampentyp
    • “Harmonic” Zustand
    • “Transient” Zustandstyp
    • Der "Transiente" Zustand (Beobachtung der Trajektorie)
    • „Transienter“ Zustand (Beobachten der Differentialtrajektorie)
    • Der Zustand “Tracking”
    • “Set Mode And Fault Type” : Folge 1
    • “Set Mode And Fault Type”: Folge 2
    • Zusätzliche Einstellungen von “Detail View”
    • Das Fenster “Signal View” Teil 1
    • Das Fenster “Signal View”, Teil 2
    • Die Einstellung “Signal View”, Folge 1
    • Die Einstellung “Signal View, Folge 2
    • Fenster “Vector View”, Folge 1
    • Das Fenster “Vector View”, Folge 2
    • Fenster “Vector View”, Folge 3
    • Das Fenster “Measurement View”, Teil 1
    • Die Registerkarte „Level Assessment“
    • Register “Ramp Assessment”
    • Die Registerkarte “Value Assessment”
    • Die Registerkarte “Calculated Assessment”
    • Die Registerkarte “Transient Assessment”
    • Ausführen des Tests
    • Das Fenster “Start-Condition-Repetition”
    • Das Fenster “Report View”
    • Das Fenster “Report View”
    • Erweiterte Einstellungen von „Report“, Folge 1
    • Erweiterte Einstellungen von „Report“, Folge 2
    • Fähigkeit, Ausgangsbinärspannung in Strom zu Konvertieren und Umgekehrt
    • Sampled Value
  • AMT Overcurrent Modul
    • Einführung des Überstromraums
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 1
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 2
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 3
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 4
    • Testansichtsfenster
    • Registerkarte “Pick-Up/Drop-Off”
    • Kennlinie des „Overcurrent” Moduls
    • Register “Setting” Ins „Overcurrent“ Modul, Teil 1
    • Register “Settings” des "Overcurrent" Moduls, Teil 2
    • Richtungs-Erdschlussfehler
    • Ergänzende Erläuterung des Moduls "Overcurrent"
    • Richtungs-Überstromschutz
  • AMT VI STARTING Modul
    • Der Raum “VI Starting”
    • Register “Shot Test”
    • Die Reisterkarte “Check Test”
    • Raumeinstellung "VI Starten"
  • AMT Distance Modul
    • Einführung "Distance" Modul, Teil 1
    • Einführung "Distance" Modul, Teil 2
    • Einführung "Distance" Modul, Teil 3
    • Einführung "Test View" Fenster in "Distance" Raum, Folge 1
    • Register "Check Test"
    • Register "Search Test"
    • Einstellungen des Raums "Distance", Folge 1
    • Einstellungen des Raums "Distance", Folge 2
    • Das Fenster "Impedance View"
    • Fenster "Zt Diagram" und "Medium Detail View"
    • Erdungsfaktor im Distanzschutz
    • Distanzschutz Spannungs- und Stromberechnungen im Testraum
  • AMT Differential Modul
    • Relaiseinstellungen im Raum "Differential", Teil 1
    • Relaiseinstellungen im "Differential" Modul, Teil 2
    • Einführung des Fensters "Test View" im "Differential" Modul, Teil 1
    • Einführung des Fensters "Test View" im "Differential" Modul, Teil 2
    • Register "Settings" in "Differential" Modul
    • Fenster "Differential Characteristic"
    • Keine Kombinierten Charakteristiken
    • Eliminierung des Nullfolgestroms
    • Restricted Earth Fault
  • AMT Diff Harmonics Modul
    • Die Einführung vom Raum "AMT Diff. Harmonics"
    • Fenster "Test View"
    • Register "Setting"
    • Fenster "Harmonic Restraint View"
  • AMT Transducer Modul
    • "Offload"-Test des Messgeräts Teil 1
    • "Offload"-Test des Messgeräts Teil 2
    • "Onload" Test des Messgeräts
    • Aufnehmertest
    • So Verwenden Sie den Optischen Pulssensor bei der Zählerprüfung
  • AMT Synchronizer Modul
    • Einführung in AMT Synchronizer
    • Prüfansicht im "Synchronizer"
  • Raum VCC
    • Raum VCC
  • Current Transformer Modul
    • Einführung "Current Transformer (CT)" Raum
    • Secondary Burden Test
    • Winding Resistance Test
    • Register "Excitation Test", Folge1
    • Register "Excitation Test", Folge 2
    • Register "Excitation Test", Folge 3
    • Register "Excitation Test", Folge 4
    • Andere Tests in der Registerkarte "Excitation Test" Durchzuführen
    • I-Wdl-Verhältnis- und Polaritätstest mit der Strommethode:
    • CT Ratio And Polarity Test (With Voltage)
    • Anleitung zum Anschluss von CTs mit dem Instrumentmodul
    • CT and PT Turns Ratio
    • Schätzung von FS und ALF für Verschiedene CTs
  • Circuit Breaker Modul
    • Vorstellung des Raums "Circuit Breaker(CB)"
    • Register "Timing Test”
    • Register "Contact Resistance"
    • Leistungsschalterbetrieb Mindestspannungsprüfung
    • Anleitung zur Durchführung von Leistungsschalterprüfungen mit dem Instrumentmodul
  • Kondensatorspannungstransformator
    • Kapazitive Spannungswandler
    • Sekundärbelastungstest
    • Register "Short-Circuit Impedance"
    • Wicklungswiderstandstest
    • Register Excitation
    • "Ratio" Register
    • Ein Leitfaden für die Prüfverdrahtung von Kapazitiven Spannungswandlern mit dem Instrumentenmodul
    • Ratio Tab setting Register
  • Transformer Modul
    • Einführung "Transformer" Room
    • Register "Vector Group, Turns Ratio And No Load"
    • Register "Magnetic Balance"
    • Regisret "Winding Resistance"
    • Register “Leakage Reactance“
    • Register “Demagnitize”
    • Leitfaden zur Durchführung von Transformatorprüfungen mit dem Instrumentenmodul
    • Verwendung von Zangen in der Transformatorenprüfung
  • Überstrom-Schnelltestraum
    • Modul "Overcurrent Quick Test"
  • Unter Überspannungsprüfraum
    • Modul Under Over Voltage Test
  • Demnächst Verfügbar...
    • Amit und Zimmer
  • Widerstandstest
    • Resistance Test
  • Fehlerbehebung
    • Die Komplette Hauptschaltung
    • Hauptschaltfehler Überstromkarte
    • Überstromfehler der Karte 2 Teil 1
    • Überstromfehler der Karte 2 Teil 2
    • Fehlerbehebung Beim Switching
    • OC-Platine IGBT-Test
    • Einführung in Interne Module Teil 1
    • Einführung in Interne Module Teil 2
    • Einführung in Interne Module Teil 3
    • Schaltmodul
    • Mögliche Fehler im Schaltmodul
    • Prüfen der Teile, bei Schaltmodulfehlern Teil 1
    • Prüfen der Teile, bei Schaltmodulfehlern Teil 2
    • Prüfen der Teile, bei Schaltmodulfehlern Teil 3
    • Die Verbindungen Zwischen dem Schaltmodul und dem Verstärker
  • Funktionsprüfung
    • End-To-End Prüfung
    • Überspannungsschutz-Funktionsprüfung im MICOM P141-Relais
    • Funktionsprüfung des Unterspannungsschutzes im MICOM-Relais P141
    • Richtungsabhängiger Überstromschutz Funktionstest im MICOM P141 Relais
    • Directional Earth Fault (DEF) Schutzfunktionstest im MICOM P141 Relais
    • Neu End-To-End Prüfung
    • Zeichnen der Abstandscharakteristik und Praktisches Beispiel für das Zeichnen der Quad-Charakteristik in Siemens 7SA522 Relais
    • Zeichnen des Merkmals von der Lasteinschränkung
    • Zeichnung der Mho-Kennlinie im GEC PYTC-Relais
    • Funktionsprüfung des Synchronisiergeräts in SIPROTEC Siemens 7SD82 Relais
    • 51V Funktionstest in Siemens 7SD82 Relais
    • Prüfung des Ungerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Unterspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Überspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Gegenstrom-Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Gerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Ungerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Distanzschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Differenzialschutzprüfung im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Rogowski-Spulen-Test
  • ZA
  • Goose Messaging-Tests
    • GOOSE-Nachrichtenprüfung
  • ANLEITUNG ZUM VERTRAUEN IN VEBKO
    • Anleitung zum Vertrauen in die Software Vebko(Stable-Test) in Kaspersky Antivirus
    • Anleitung zum Vertrauen in die Vebko(Stable-Test) Software in NOD32 Antivirus
    • Anleitung zum Vertrauen in Vebko (Stable-Test) Software in Bitdefender Antivirus
  • PMU Test
    • PMU Test
  • ZE
  • Einführendes Unternehmen und Producte
    • Montagestufen des AMR-Relais
  • Software Download und Installation
    • Installation der Software
  • Software Homepage und Projekt erstellen
    • Anmeldung in der Hauptumgebung der Software
  • Verbindung und Firmware aktualisieren
    • Mit Relais Verbinden
    • Firmware-Relais-Update
  • Relais Hardware
    • Relais Hardwaremodul
    • Spannungs- und Stromwandler Daten
  • AMR Relais Test
    • Differenzialschutzprüfung im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Gerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Gegenstrom-Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Distanzschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Ungerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Überspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Unterspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
  • Real Testing Requires Realistic Signals
  • AMPro Protocol Sniffer
  • Meet SV100+
  • IEC 61850 Sampled Values Testing
  • Digital substations run at the speed of light
  • Don’t Just Test Your Relays. Simulate the Grid
  • Smart Configuration Inheritance in VCC — With Full Control
  • Control What Appears in Your Test Report
  • From Comtrade to Inject
  • Design and Navigate Complex Test Procedures with the AMPRO Sequencer
  • One State. Four Transitions. Total Control
  • Stop waiting for the test to finish
  • Balanced System, Zero Trip, Infinite Confidence
  • Defining Complex Logic For Assessments
  • Erweiterte Assessments
  • Vebko Around The World
  • Noise Suppression in Transformer Turns Ratio
  • Relay Data in Quick Access
  • Wiring Clarity - Without Leaving Your Workspace
  • Design and Navigate Complex Test Procedures with the AMPRO Sequencer
  • Flexible Connectivity with AMT205 in AMPRO
  • Simultaneous Ramp on All Outputs [AMT205]
  • Continuous Ramp Capability [AMT205]
  • Distance Search Testing
  • Comprehensive Circuit Breaker Testing [AMT205]
  • Smarter Configuration In VCC File
  • New Feature In Vebko AMPro
  • Vebko Educational Videos
  • Contact Resistance Measurement
  • Test With Confidence
  • Control Your Report
  • One Device, Any Relay
  • DC Resistance Measurement
  • History of Amt105 GPS
  • History of Amt105 Wifi
  • AMT 105 Features
  • Catalog
    • Gesamtkatalog
    • Zubehör
    • Agenturen
    • Katalog
    • Hardware
  • PDF PDF herunterladen
    0 / 0

    Die Einstellung “Signal View, Folge 2

    Der Teil „Operation“ wird verwendet, wenn der Benutzer beschließt, eine Rechenoperation an den vorhandenen Signalen durchzuführen. Zunächst wird die Zahl der gewünschten Operationen eingegeben und durch Klicken auf „Initiate“ werden die Operationen erstellt. Hier wurde die Zahl 3 eingegeben.

    Für jede Operation wird ein eigener Abschnitt geöffnet und die jeweilige Operation kann durch Anklicken des roten Kreuzes in der Ecke des Kastens gelöscht werden. Im Feld „Operation Mode“ wird festgestellt, dass mit welchem Signal die Operation Analog „By Signal“ () oder „By Dry Value“ (Dry) durchgeführt wird! Wenn „By Dry Value“ ausgewählt ist, werden die aktiven Binäreingänge in der Tabelle angezeigt. Zuerst werden auf der Seite „Hardware Configuration“ die Binärdateien „C3“ & „C4“ aktiviert, damit Sie mit dieser Option die Binärdateien sehen und einen Wert für sie bestimmen können. Hier wird für jeden von ihnen der Wert „5“ vergeben. Für jede Operation wird eine Option „Calculated“ über dem oberen Balken „Setting“ pro Operation hinzugefügt. Durch Aktivieren dieser Option wird das Signal „Calculated“ in der „Signal View“ angezeigt. In diesem Diagramm werden die Werte der verbundenen Kontakte aggregiert und im Diagramm angezeigt; dies wird zum Testen kapazitiver Bänke verwendet. Sie können z. B. beobachten, dass die Werte im Treppenhaus addiert werden, indem Sie die Kontakte „C3“ und „C4“ erhalten.

    Im Teil „Number of Signal“ zeigt die Anzahl der in „Operation“ verwendeten Signale an, dass 2 oder 4 Signale ausgewählt werden können. Im Dropdown-Feld „Singnal 1“ und „Singnal 2“ werden ihnen die gegebenen Signale zugeordnet, und durch Überprüfung der Option „Advanced“ wird ein Abschnitt geöffnet, in dem die Signalinformationen, wie z.B. die Signaleinheit, bestimmt werden können. Darüber hinaus wird durch Eingabe eines Werts im Feld „Coef.“ das gegebene Signal durch einen Faktor beeinflusst, und im Feld „Name“ kann ein Name für das Signal bestimmt werden. Im Dropdown-Feld „Operation“ bestimmt der Benutzer die Art der mathematischen Operation, die zwischen Signalen ausgeführt werden soll. Im Teil „Advanced“ dieses Feldes kann ein Name für diese Aktion ermittelt werden.

    Nachdem die „Operation“ angegeben wurde, wird der Teil „Add Time“ hinzugefügt, der Zeitintervalle im Signaldiagramm bestimmen kann. Um dies deutlich zu machen, wird der Zeitzustand zunächst in der „Detail View“ auf 10 Sekunden festgelegt, und die gleichen Intervalle werden auf dem Signal bestimmt, indem eine Zeit von z. B. 2 Sekunden im Teil „Auto Add Time“ angegeben wird. Wenn der Benutzer beabsichtigt, nicht identische Zeitintervalle zu bestimmen, wird durch Auswahl von „Add Time“ ein Fenster mit demselben Namen geöffnet, und einige Zeilen werden durch Rechtsklick hinzugefügt. Die erste Spalte bestimmt die Operationen, die für die Berechnung der Werte dieser Zeile verwendet werden sollen. In der Spalte „Time“ wird die angegebene Zeit ausgewählt. In der Spalte „Value“ wird der Wert von Operation in der angegebenen Zeit berechnet. Die Spalte „Slope“

    Im Teil „Show Signals“ werden alle Parameter bestimmt, die der Spannung und dem Strom im Test entsprechen. Dieser Teil enthält einige Spalten und am Anfang jeder Spalte steht der Name des entsprechenden Parameters. Jede Spalte enthält einige Optionen. Wenn Sie jede Option auswählen, wird der Name des Feldes oben auf der Registerkarte „Setting“ hinzugefügt, und dann werden durch Aktivieren dieser Option die entsprechenden Effektivwert in der „Signal View“ angezeigt.

    Wenn die Option „Show Actual Value“ von Binäreingänge gesetzt ist, werden zwei Teile zu „Setting“ und „Signal View“ hinzugefügt, indem Sie beispielsweise die Option „Binary-Input Target“ auf der Seite „Hardware Configuration“ und auf der Registerkarte „Binary/Analog Input“ aktivieren, sind alle Binäreingänge aktiviert. Dann wird die Option „Show Actual Value“ eines davon auf den Status „AC“ (oder DC) gesetzt und die Option „Show Actual Value“ aller aktivierten Binäreingänge wird auf den Status „AC“ gesetzt, wenn Sie mit der rechten Maustaste darauf klicken und die Option „Set all Binary like this“ wählen. Sie können beobachten, dass alle Binäreingänge der Leiste oben „Setting“ hinzugefügt wurden. Durch die Überprüfung jedes von ihnen kann das entsprechende Signal in „Signal View“ angezeigt werden.

    Im Teil „Select Graph for Actual Binary“ können Sie andere Signale in den proprietären Graphen der einzelnen Binäreingänge auswählen, deren „Show Actual Value“ zur Anzeige aktiviert ist. Neben der Anzeige ihrer Signale werden auch die Binäreingänge in der Grafik dargestellt. Auf diese Weise kann ein Vergleich zwischen dem Signal "Binary Input" und einem anderen Signal durchgeführt werden. Hier legen wir zum Beispiel fest, dass zusätzlich zur Anzeige des Auslösesignals auch die Signale „Start“ und „VL1-E“ im Signaldiagramm „C1“ angezeigt werden. Zusätzlich kann der Signalname geändert werden. Durch die Auswahl des Namens auf der Leiste über „Setting“ können die Signale beobachtet werden.

    Im Teil „Binary (Analog) Transformer“ kann der Benutzer das Signal mit einem konstanten Wert aggregieren, es mit einem Faktor multiplizieren oder eine Phasenverschiebung darauf anwenden. Der Benutzer kann beabsichtigen, einen weiteren Parameter einzuführen, indem er diese Faktoren auf den gegebenen Parameter anwendet, z.B. wenn das Spannungssignal durch Multiplikation des Stromsignals mit 2 und Aggregation mit dem Wert 3 erhalten wird, wird der eingeführte Parameter durch Auswahl der Option „Voltage“ ein Spannungsparameter sein.

     [jg1]Signal_View_Setting_part2

    Verwandte Themen

    • Die Registerkarte „Level Assessment“ AMT Sequencer Modul
    • Die Einstellung “Signal View”, Folge 1 AMT Sequencer Modul
    • Das Fenster “Report View” AMT Sequencer Modul
    • Quick Type AMT Sequencer Modul
    • Das Fenster “Measurement View”, Teil 1 AMT Sequencer Modul
    • Amit und Zimmer Demnächst Verfügbar...
    • Ausführen des Tests AMT Sequencer Modul
    • Register "Timing Test” Circuit Breaker Modul
    Sharing Window
    Telegram Telegram WhatsApp WhatsApp Eitaa Eitaa FaceBook FaceBook Linkedin Linkedin X X
    Die Einstellung “Signal View, Folge 2
    Tap play once on mobile if autoplay is blocked.
    En Fa De Tr Mu
    MP4
    MP3
    SRT
    DOC