• Language
  • VEBKO

  • Einführendes Unternehmen und Producte
    • Vorstellung von Geräten und Teilen des Prüfgeräts AMT105
    • Zerlegungsschritte des AMT-Prüfgeräts
    • Vorstellung des Geräts und der Ausrüstung
    • Vergleichende Analyse der Geräte AMT105, AMT205, AMT103 und AMT203
    • Übersetzung der AMPro-Software
  • Software-Installation und Verbindungseinstellung
    • Softwareinstallation
    • So Stellen Sie eine Verbindung zu AMT 105 Her
    • Der Anschluss Mehrerer Geräte Gleichzeitig
    • Zurücksetzen der IP-Adresse
    • Firmware des Geräts Manuell Aktualisieren
  • Standardeinstellung
    • Allgemeine Einstellung von „Rooms“
    • Allgemeine Stellzeit der Zimmer, Teil2
    • Standardeinstellung für "Report"
    • Einstellungen Seite „Directory“ und „Cash“ Tab
    • "Connection & Firmware" Registerkarte
    • Gerät Hardware-Einstellung
    • Änderung und Verbesserung der Übersetzung der Website der Firma Vebko Amirkabir
    • Leistungsregelung und Ihre Beziehung zur Wärme
    • Modifizierung und Verbesserung der Übersetzung der AMPro-Software
  • Software Startseite
    • Allgemeine Typen von Zimmern
    • Software Startseite
  • Symbolleiste und Statusleiste der Module
    • Symbolleiste und Statusleiste, Teil 1
    • Symbolleiste und Statusleiste, Teil 2
    • Option "New Based On Custom Template"
    • Bestimmen von Dezimalzahlen, Folge 1
    • Bestimmen von Dezimalzahlen, Folge 2
    • Einstellung des Analogausgangs
    • Einstellung der Binäreingänge, Teil1
    • Einstellung der Binäreingänge, Teil2
    • Hardwarekonfiguration
    • Zusätzliche Einstellung
    • Relaisspezifikation im "Test Objekt"
    • Einführung in “RIO”
    • Einführung in die "XRIO"
    • XRIO Converter Datei:
    • XRIO-Konverter, Teil2
    • Ergänzende Erklärung über XRIO Converter
    • XRIO And XRIO Converter
    • XRIO & Relay Einstellung in der Software
    • XRIO Converter Formelschreiben
    • Schreiben von „XRIO Converter“ für ein Überstromrelais
    • Schreibformel für den „XRIO Converter“
    • Schreibformel für den „XRIO Converter“, Folge 4
    • Schreibformel für den „XRIO Converter“
    • Ergänzende Erläuterungen zum Abschnitt "Device"
  • AMT Sequencer Modul
    • Eine Einführung in den Sequencer Room
    • Fenster “Table View”
    • Die Separate Symbolleiste des Fensters „Tabellenansicht“
    • “Detail View” Registerkarte
    • „Analog Out“ Registerkarte
    • Quick Type
    • “Step Ramp” Typ
    • Kontinuierlicher Rampentyp
    • “Harmonic” Zustand
    • “Transient” Zustandstyp
    • Der "Transiente" Zustand (Beobachtung der Trajektorie)
    • „Transienter“ Zustand (Beobachten der Differentialtrajektorie)
    • Der Zustand “Tracking”
    • “Set Mode And Fault Type” : Folge 1
    • “Set Mode And Fault Type”: Folge 2
    • Zusätzliche Einstellungen von “Detail View”
    • Das Fenster “Signal View” Teil 1
    • Das Fenster “Signal View”, Teil 2
    • Die Einstellung “Signal View”, Folge 1
    • Die Einstellung “Signal View, Folge 2
    • Fenster “Vector View”, Folge 1
    • Das Fenster “Vector View”, Folge 2
    • Fenster “Vector View”, Folge 3
    • Das Fenster “Measurement View”, Teil 1
    • Die Registerkarte „Level Assessment“
    • Register “Ramp Assessment”
    • Die Registerkarte “Value Assessment”
    • Die Registerkarte “Calculated Assessment”
    • Die Registerkarte “Transient Assessment”
    • Ausführen des Tests
    • Das Fenster “Start-Condition-Repetition”
    • Das Fenster “Report View”
    • Das Fenster “Report View”
    • Erweiterte Einstellungen von „Report“, Folge 1
    • Erweiterte Einstellungen von „Report“, Folge 2
    • Fähigkeit, Ausgangsbinärspannung in Strom zu Konvertieren und Umgekehrt
    • Sampled Value
  • AMT Overcurrent Modul
    • Einführung des Überstromraums
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 1
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 2
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 3
    • Relaiseinstellungen im „Überstrom“-Raum – Teil 4
    • Testansichtsfenster
    • Registerkarte “Pick-Up/Drop-Off”
    • Kennlinie des „Overcurrent” Moduls
    • Register “Setting” Ins „Overcurrent“ Modul, Teil 1
    • Register “Settings” des "Overcurrent" Moduls, Teil 2
    • Richtungs-Erdschlussfehler
    • Ergänzende Erläuterung des Moduls "Overcurrent"
    • Richtungs-Überstromschutz
  • AMT VI STARTING Modul
    • Der Raum “VI Starting”
    • Register “Shot Test”
    • Die Reisterkarte “Check Test”
    • Raumeinstellung "VI Starten"
  • AMT Distance Modul
    • Einführung "Distance" Modul, Teil 1
    • Einführung "Distance" Modul, Teil 2
    • Einführung "Distance" Modul, Teil 3
    • Einführung "Test View" Fenster in "Distance" Raum, Folge 1
    • Register "Check Test"
    • Register "Search Test"
    • Einstellungen des Raums "Distance", Folge 1
    • Einstellungen des Raums "Distance", Folge 2
    • Das Fenster "Impedance View"
    • Fenster "Zt Diagram" und "Medium Detail View"
    • Erdungsfaktor im Distanzschutz
    • Distanzschutz Spannungs- und Stromberechnungen im Testraum
  • AMT Differential Modul
    • Relaiseinstellungen im Raum "Differential", Teil 1
    • Relaiseinstellungen im "Differential" Modul, Teil 2
    • Einführung des Fensters "Test View" im "Differential" Modul, Teil 1
    • Einführung des Fensters "Test View" im "Differential" Modul, Teil 2
    • Register "Settings" in "Differential" Modul
    • Fenster "Differential Characteristic"
    • Keine Kombinierten Charakteristiken
    • Eliminierung des Nullfolgestroms
    • Restricted Earth Fault
  • AMT Diff Harmonics Modul
    • Die Einführung vom Raum "AMT Diff. Harmonics"
    • Fenster "Test View"
    • Register "Setting"
    • Fenster "Harmonic Restraint View"
  • AMT Transducer Modul
    • "Offload"-Test des Messgeräts Teil 1
    • "Offload"-Test des Messgeräts Teil 2
    • "Onload" Test des Messgeräts
    • Aufnehmertest
    • So Verwenden Sie den Optischen Pulssensor bei der Zählerprüfung
  • AMT Synchronizer Modul
    • Einführung in AMT Synchronizer
    • Prüfansicht im "Synchronizer"
  • Raum VCC
    • Raum VCC
  • Current Transformer Modul
    • Einführung "Current Transformer (CT)" Raum
    • Secondary Burden Test
    • Winding Resistance Test
    • Register "Excitation Test", Folge1
    • Register "Excitation Test", Folge 2
    • Register "Excitation Test", Folge 3
    • Register "Excitation Test", Folge 4
    • Andere Tests in der Registerkarte "Excitation Test" Durchzuführen
    • I-Wdl-Verhältnis- und Polaritätstest mit der Strommethode:
    • CT Ratio And Polarity Test (With Voltage)
    • Anleitung zum Anschluss von CTs mit dem Instrumentmodul
    • CT and PT Turns Ratio
    • Schätzung von FS und ALF für Verschiedene CTs
  • Circuit Breaker Modul
    • Vorstellung des Raums "Circuit Breaker(CB)"
    • Register "Timing Test”
    • Register "Contact Resistance"
    • Leistungsschalterbetrieb Mindestspannungsprüfung
    • Anleitung zur Durchführung von Leistungsschalterprüfungen mit dem Instrumentmodul
  • Kondensatorspannungstransformator
    • Kapazitive Spannungswandler
    • Sekundärbelastungstest
    • Register "Short-Circuit Impedance"
    • Wicklungswiderstandstest
    • Register Excitation
    • "Ratio" Register
    • Ein Leitfaden für die Prüfverdrahtung von Kapazitiven Spannungswandlern mit dem Instrumentenmodul
    • Ratio Tab setting Register
  • Transformer Modul
    • Einführung "Transformer" Room
    • Register "Vector Group, Turns Ratio And No Load"
    • Register "Magnetic Balance"
    • Regisret "Winding Resistance"
    • Register “Leakage Reactance“
    • Register “Demagnitize”
    • Leitfaden zur Durchführung von Transformatorprüfungen mit dem Instrumentenmodul
    • Verwendung von Zangen in der Transformatorenprüfung
  • Überstrom-Schnelltestraum
    • Modul "Overcurrent Quick Test"
  • Unter Überspannungsprüfraum
    • Modul Under Over Voltage Test
  • Demnächst Verfügbar...
    • Amit und Zimmer
  • Widerstandstest
    • Resistance Test
  • Fehlerbehebung
    • Die Komplette Hauptschaltung
    • Hauptschaltfehler Überstromkarte
    • Überstromfehler der Karte 2 Teil 1
    • Überstromfehler der Karte 2 Teil 2
    • Fehlerbehebung Beim Switching
    • OC-Platine IGBT-Test
    • Einführung in Interne Module Teil 1
    • Einführung in Interne Module Teil 2
    • Einführung in Interne Module Teil 3
    • Schaltmodul
    • Mögliche Fehler im Schaltmodul
    • Prüfen der Teile, bei Schaltmodulfehlern Teil 1
    • Prüfen der Teile, bei Schaltmodulfehlern Teil 2
    • Prüfen der Teile, bei Schaltmodulfehlern Teil 3
    • Die Verbindungen Zwischen dem Schaltmodul und dem Verstärker
  • Funktionsprüfung
    • End-To-End Prüfung
    • Überspannungsschutz-Funktionsprüfung im MICOM P141-Relais
    • Funktionsprüfung des Unterspannungsschutzes im MICOM-Relais P141
    • Richtungsabhängiger Überstromschutz Funktionstest im MICOM P141 Relais
    • Directional Earth Fault (DEF) Schutzfunktionstest im MICOM P141 Relais
    • Neu End-To-End Prüfung
    • Zeichnen der Abstandscharakteristik und Praktisches Beispiel für das Zeichnen der Quad-Charakteristik in Siemens 7SA522 Relais
    • Zeichnen des Merkmals von der Lasteinschränkung
    • Zeichnung der Mho-Kennlinie im GEC PYTC-Relais
    • Funktionsprüfung des Synchronisiergeräts in SIPROTEC Siemens 7SD82 Relais
    • 51V Funktionstest in Siemens 7SD82 Relais
    • Prüfung des Ungerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Unterspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Überspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Gegenstrom-Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Gerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Ungerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Distanzschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Differenzialschutzprüfung im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Rogowski-Spulen-Test
  • ZA
  • Goose Messaging-Tests
    • GOOSE-Nachrichtenprüfung
  • ANLEITUNG ZUM VERTRAUEN IN VEBKO
    • Anleitung zum Vertrauen in die Software Vebko(Stable-Test) in Kaspersky Antivirus
    • Anleitung zum Vertrauen in die Vebko(Stable-Test) Software in NOD32 Antivirus
    • Anleitung zum Vertrauen in Vebko (Stable-Test) Software in Bitdefender Antivirus
  • PMU Test
    • PMU Test
  • ZE
  • Einführendes Unternehmen und Producte
    • Montagestufen des AMR-Relais
  • Software Download und Installation
    • Installation der Software
  • Software Homepage und Projekt erstellen
    • Anmeldung in der Hauptumgebung der Software
  • Verbindung und Firmware aktualisieren
    • Mit Relais Verbinden
    • Firmware-Relais-Update
  • Relais Hardware
    • Relais Hardwaremodul
    • Spannungs- und Stromwandler Daten
  • AMR Relais Test
    • Differenzialschutzprüfung im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Gerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Gegenstrom-Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Distanzschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Ungerichteten Überstromschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
    • Prüfung des Überspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Vorlagen)
    • Prüfung des Unterspannungsschutzes im AMR-Relais (Einfache Prüfung mit Schablonen)
  • Real Testing Requires Realistic Signals
  • AMPro Protocol Sniffer
  • Meet SV100+
  • IEC 61850 Sampled Values Testing
  • Digital substations run at the speed of light
  • Don’t Just Test Your Relays. Simulate the Grid
  • Smart Configuration Inheritance in VCC — With Full Control
  • Control What Appears in Your Test Report
  • From Comtrade to Inject
  • Design and Navigate Complex Test Procedures with the AMPRO Sequencer
  • One State. Four Transitions. Total Control
  • Stop waiting for the test to finish
  • Balanced System, Zero Trip, Infinite Confidence
  • Defining Complex Logic For Assessments
  • Erweiterte Assessments
  • Vebko Around The World
  • Noise Suppression in Transformer Turns Ratio
  • Relay Data in Quick Access
  • Wiring Clarity - Without Leaving Your Workspace
  • Design and Navigate Complex Test Procedures with the AMPRO Sequencer
  • Flexible Connectivity with AMT205 in AMPRO
  • Simultaneous Ramp on All Outputs [AMT205]
  • Continuous Ramp Capability [AMT205]
  • Distance Search Testing
  • Comprehensive Circuit Breaker Testing [AMT205]
  • Smarter Configuration In VCC File
  • New Feature In Vebko AMPro
  • Vebko Educational Videos
  • Contact Resistance Measurement
  • Test With Confidence
  • Control Your Report
  • One Device, Any Relay
  • DC Resistance Measurement
  • History of Amt105 GPS
  • History of Amt105 Wifi
  • AMT 105 Features
  • Catalog
    • Gesamtkatalog
    • Zubehör
    • Agenturen
    • Katalog
    • Hardware
  • PDF PDF herunterladen
    0 / 0

    Registerkarte “Pick-Up/Drop-Off”

    In dieser Registerkarte wird die Prüfung „Pick-up/Drop-off“ des Relais durchgeführt. Im Abschnitt „Test Point“ werden die Einstellungen für Testpunkte angepasst. Wenn Sie eine Prüfung „Pick-up/Drop-off“ in ein ungerichtetes Relais durchführen möchten, müssen Sie „Current“ aus der Auswahllist „Target Type“ wählen und für ein gerichtetes Relais, wählen Sie „Current“ oder „Angle“ aus der Auswahllist „Target Type“ wählen. Zuerst wird „Current“ für eine Prüfung ungerichtetes Relais ausgewählt.

    Im Feld „Pickup“ wird der Anregestrom des Relais angegeben. Das bedeutet, dass das Relais idealerweise bei diesem Strom erfolgen muss, und hier geben wir 1A für dieses Feld ein. Im Feld „Reset Ratio“ wird das Verhältnis von "Drop"-Strom zu Anregestrom angegeben, das hier auf 0.95 eingestellt ist. Beachten Sie, dass die Software durch die Angabe eines Werts für „Reset Ratio“ den aktuellen Wert "Drop" berechnet und im Feld "Drop Off" anzeigt. Im Feld „Angle“ wird der Winkel des Anregestroms angegeben, der für ungerichtetes Relais nicht nützlich ist, und je nach Prüfung kann der Benutzer ihn auf den gewünschten Wert einstellen. Da die Software nun in Prüfung „Pick-up/Drop-off“ steigende oder abnehmende Rampen verwendet, muss das Zeitintervall zwischen zunehmenden und abnehmenden Rampen in „Pickup ∆t“ bzw. „Drop Off ∆t“ eingegeben werden. Standardmäßig sind diese Werte auf 100 Millisekunde eingestellt. Im Feld „∆I“ werden die Werte für jeden Zustand in jeder Zeitrampe angegeben. Hier wird dieser Wert auf 20 mA. Dann wird im Feld „Pickup Start“ der Anfangsstromwert der Rampe im Test angegeben. Hier wird dieser Wert auf 800 mA. Das bedeutet, dass die Rampe bei 800 Milliampere beginnt und ansteigt. Darüber hinaus ist es notwendig, auch die Endwerte des Rampenstroms anzugeben. Diese Werte werden in die Felder "Pickup End" und "Drop Off End" für "Pickup" bzw. "Drop Off" eingegeben. Beispielsweise sind hier die endgültigen Stromwerte für Anregestrom und "Drop Off" auf 1.2 Ampere bzw. 800 Milliampere eingestellt.

    Nun, entsprechend den Werten, die im Abschnitt „Test Point“ festgelegt sind, wendet die Software eine steigende Rampe von 800 Milliampere auf 1.2 Ampere Strom mit 20 Milliampere Rampen und 100 Millisekunden Zeitintervall an und empfängt dann die Anregemeldung. Dann wird eine abnehmende Rampe mit 20 Milliampere Rampe und 100 Millisekunden Zeitintervall bis zum Relais "Drops" angewendet. Im Abschnitt „Fault Type“ ist es, wie bereits erwähnt, möglich, den Fehlertyp zu bestimmen. Mit der Schaltfläche „Add“ wird diese Testlinie nun der Kennlinie des Relais im Fenster „Overcurrent Characteristic“ hinzugefügt. Außerdem wird die entsprechende Zeile der Tabelle unten auf der Seite „Pick-up/Drop-off“ hinzugefügt. Im Abschnitt „Detail“ werden nach Abschluss des Tests der reale Anregestrom des Relais und der Relais-Stromwert "DropOff" des Relais in den Feldern "PickUp act" bzw. "DropOff act" angezeigt.

    Für jede Fehler wird diese Prüfung nur in einem Punkt durchgeführt.

    Unmittelbar nach Erhalt des "Pickup"-Kontakts beginnt die Rampe ab dem "Pickup-End"-Punkt abzufallen. Wenn Sie möchten, dass die Rampe vom selben Punkt wie den ein Relais Anregung erfolgt, müssen Sie die Option „Last State Amplitude“ aktivieren.

    Für eine gerichtete Prüfung sind hier die Einstellungen für ein gerichtetes Relais so, dass die Spalte „Direction“ „Forward“ ist und „Maximum Torque Angle“ und „Sector Opening“ auf -60 bzw. 180 Grad eingestellt sind. Öffnen Sie dann die „Medium Detail View“. In diesem Fenster wird der Betriebsbereich des Relais in Grün und Violett angezeigt. Sie können sehen, dass dieser Bereich zwischen (-90+60) 30 Grad und (-60-90) -150 Grad eingestellt ist. Im Abschnitt „PickUp-DropOff Data“ werden die aus den erstellten Testzeilen ausgewählten Testzeilen in der Tabelle auf der linken Seite angezeigt. In der linken Seitenleiste dieses Fensters werden einige Werkzeuge für Diagramme verwendet, die zuvor erläutert wurden.

    Jetzt wird „Angle“ aus „Target Type“ ausgewählt und Zustände der Rampe von der Software erstellt werden auf den Winkel gesetzt. In diesem Modus werden der Wert des Stroms und der Fehlerstromwinkel in die Felder „Current“ bzw. „Angle“ eingegeben. Außerdem wird der Betrag der Winkeländerungen in jeder Rampe, der Betrag des Startwinkelwerts für Rampe Zustand und der Endwert dieses Winkels in die Felder „∆∅“, „Pickup-Start“ bzw. „Pickup-Ende“ eingegeben.

    Hier sollten Sie z. B. zwei Suchlinien in Rahmenpunkten erstellen. Die erste Suchlinie wird mit einem Anregestrom 1A und einem 30-Grad-Winkel eingestellt. Sie können sehen, dass die Felder, die sich auf diese Prüflinie beziehen, auf der rechten Seite von der Software angepasst werden. Beachten Sie, dass diese Werte vom Benutzer angegeben werden können. Auch im grafischen Diagramm des Fensters „Medium Detail View“ wird der Winkelbereich des beabsichtigten Tests rosa. Nun fügen wir diese Testzeile zur Testtabelle „Pick-up/Drop-off" hinzu. Um nun die nächste Testlinie zu erstellen, wird -150 als Winkelwert im Feld „Angle“ eingegeben, und diese Auslinie wird auch zu den Testlinien hinzugefügt. Sie können sehen, dass durch Die Auswahl einer der erstellten Testzeilen die Informationen im Fenster „Pick-up/Drop-off Data“ angezeigt werden. Beachten Sie, dass Sie bei der Durchführung dieser Prüfung in Anregestrom den Test einmal an der höchsten Begrenzung des Winkels und einmal an der niedrigsten Begrenzung des Winkels durchführen sollten.

     [jg1]PickUp_DropOff_window

    Verwandte Themen

    • Testansichtsfenster AMT Overcurrent Modul
    • Register “Settings” des "Overcurrent" Moduls, Teil 2 AMT Overcurrent Modul
    • Register “Setting” Ins „Overcurrent“ Modul, Teil 1 AMT Overcurrent Modul
    • Einführung des Überstromraums AMT Overcurrent Modul
    • Funktionsprüfung des Unterspannungsschutzes im MICOM-Relais P141 Funktionsprüfung
    • “Step Ramp” Typ AMT Sequencer Modul
    • Ausführen des Tests AMT Sequencer Modul
    • Quick Type AMT Sequencer Modul
    Sharing Window
    Telegram Telegram WhatsApp WhatsApp Eitaa Eitaa FaceBook FaceBook Linkedin Linkedin X X
    Registerkarte “Pick-Up/Drop-Off”
    Tap play once on mobile if autoplay is blocked.
    En Fa De Tr Mu
    MP4
    MP3
    SRT
    DOC